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Surtronic DUO粗糙度儀量程信息
點擊次數(shù):65 更新時間:2025-11-28
泰勒霍普森旗下經(jīng)典便攜式粗糙度測量設備,Surtronic DUO以精準性與通用性立足工業(yè)檢測領域,其核心參數(shù)與測量精度契合現(xiàn)代精密制造的質(zhì)量管控需求。該設備搭載耐磨金剛石測針(半徑5μm)與高靈敏度壓電傳感器,垂直位移分辨率達0.01μm,Ra參數(shù)測量量程40μm,Rz、Rp等擴展參數(shù)量程可達199μm,滿足ISO 4287等國際標準規(guī)定的多參數(shù)測量要求。
在測量精度方面,Surtronic DUO,粗糙度標準(Ra)測量精度達±(2%+0.004μm),工件單次測量誤差控制在±3%以內(nèi),噪聲僅0.02μm,搭配自動校準程序,確保數(shù)據(jù)具備良好的可追溯性。這種高精度特性使其在多行業(yè)場景中均能穩(wěn)定發(fā)揮作用:航空航天領域可精準檢測發(fā)動機葉片、復合材料結構等關鍵部件,其中激光模式可實現(xiàn)復合材料無損評估,觸針模式保障金屬部件測量精度;汽車制造環(huán)節(jié)中,從發(fā)動機缸體到傳動齒輪、塑料密封件,均可通過設備實現(xiàn)生產(chǎn)線實時檢測,大幅縮短檢測周期。

